제품설명

BA-4000 - Electrical 800G Bit Error Rate Tester

주요 특징 (Key Features)

- 100G, 400G 및 800G 고속 인터페이스 시험 지원: 100G(4 × 28 GBd), 400G(4 × 56 GBd), 800G(8 × 56 GBd) 인터페이스에 대한 시험 및 검증 기능 제공

- NRZ 및 PAM4 신호 변조 방식 지원: NRZ(Non-Return-to-Zero) 및 PAM4(Pulse Amplitude Modulation 4-Level) 신호 방식에 대한 시험 지원

- 다양한 PRBS 시험 패턴 지원: PRBS 7/9/11/13/15/23/31/13Q/31Q 및 SSPRQ 패턴을 지원하여 고속 데이터 전송 인터페이스의 신호 품질 및 비트 오류 성능 검증 가능

- FEC(순방향 오류 정정) 시험 기능: RS-FEC Scrambled Idle Pattern을 지원하여 53 GBd 호스트 측 인터페이스의 오류 정정 성능 및 동작 상태 검증 가능

- 채널 시뮬레이터(Channel Simulator) 지원: 다양한 전송 채널 환경을 모의하여 신호 전송 특성 및 인터페이스 성능 평가 가능

- 버스트 및 랜덤 오류 삽입 기능: 버스트 오류(Burst Error)와 랜덤 오류(Random Error)를 인위적으로 발생시켜 오류 검출 및 정정 기능의 성능 검증 지원

적용 분야 (Applications)

- 광트랜시버 및 케이블 시험·검증: 광트랜시버와 고속 전송 케이블의 성능 시험 및 검증

- 광학 부품 및 PIC 시험: 다양한 광학 부품과 광집적회로(PIC, Photonic Integrated Circuit)의 특성 및 성능 평가

- 고속 전기 IC 시험: 고속 데이터 전송용 집적회로(IC)의 신호 품질 및 전기적 성능 시험·검증